-19 %
Metrologie - 3. přepracované vydání
Dátum vydania: 30.08.2019
Skripta jsou především určena studentům předmětů A0M38MET a XP38MPM, které jsou zajišťovány katedrou měření na FEL ČVUT v Praze. Jejich první část je věnována fundamentální metrologii, pojednává o měřicích škálách, soustavě měřicích jednotek SI, etalonech elektrických veličin, metodách používaných ...
Bežná cena knihy: 16,45 €
Naša cena knihy: 13,32 €
Ušetríte: 19 %
Dostupnosť: Posledný kus na externom sklade
Detaily o knihe
Počet strán: 134
Väzba: Brožovaná
Rozmer: 210x297 mm
Jazyk: česky
EAN: 9788001066126
Rok vydania: 2019
Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, si kúpili aj...
O knihe
Skripta jsou především určena studentům předmětů A0M38MET a XP38MPM, které jsou zajišťovány katedrou měření na FEL ČVUT v Praze. Jejich první část je věnována fundamentální metrologii, pojednává o měřicích škálách, soustavě měřicích jednotek SI, etalonech elektrických veličin, metodách používaných při navazování etalonů, chybách měření a nejistotách měření. Druhá část je zaměřena na problematiku přesných měření stejnosměrných a nízkofrekvenčních elektrických veličin a seznamuje studenty jednak se speciálními prostředky a zařízeními, jejichž používání umožňuje dosahovat vysoké přesnosti měření, jednak s vlastními metodami přesného měření aktivních i pasivních elektrických veličin.
